Infrastrukturliste
| Institutskennziffer (IKZ) | Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur | Art des Gerätes | Hersteller | Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten | Modell |
|---|---|---|---|---|---|
| 524210 | Sonstiges/Other | X-ray diffractometer | Malvern PANalytical | PDF, Texture analysis, stress measurement, high temperature XRD | Empyren (3rd Gen) |
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