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Eintrag

Kategorie:
Atomic force microscopy

Art des Gerätes:
Sonstiges/Other

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Sonstiges/Other

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):

Identifikationsnummer (optional):
sonstiges-other-132

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
"Atomic force microscopy (AFM). Same tool also allows UV-Vis. optical spectroscopy, PiFM and KPFM."

Hersteller:
Molecular Vista

Jahr des Erwerbs (optional):

Modell:
Vista One

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):
Material category C

Nutzergruppen:
Internals and externals

Art der Nutzung:
Operator

Fakultät:

• Faculty 6 – Electrical Engineering and Information Technology

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
ZMNT – Central Laboratory for Micro- and Nanotechnology

Website (optional)

Adresse (optional):
WSH

Ansprechpartner*in:
Dr.-Ing. Birger Berghoff

E-Mailadresse (optional):