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Kategorie:
Mikroskope

Art des Gerätes:
Dual-beam microscope (SEM/FIB)

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
FEI Helios Nanolab 660 (StrucMatLab)

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):
EDX, EBSD

Identifikationsnummer (optional):
9923255

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
The dual-beam microscope Helios Nanolab 660, manufactured by FEI, is operated within StrucMatLab at Materials Chemistry since 2014 and equipped with a field emission electron source and a liquid metal ion source. This combination of a scanning electron microscope with a focused ion beam allows for imaging and material modification. The microscope is primarily used for preparation of needle-like atom probe specimens as well as thin lamellae, which are analyzed by transmission electron microscopy. In addition, specimens for micromechanical testing such as cantilevers or micropillars can be produced.

Hersteller:
FEI

Jahr des Erwerbs (optional):
2013

Modell:
Helios Nanolab 660

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):
Solid, conductive

Nutzergruppen:
Interne

Art der Nutzung:
Dienstleistung und Anwender*in

Fakultät:

• Faculty 5 – Georesources and Materials Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):
Materials Science and Engineering

Institutskennziffer (IKZ):
StrucMatLab / Materials Chemistry

Website (optional)
https://www.strucmatlab.rwth-aachen.de/cms/strucmatlab/Aktivitaeten/~bkzbte/Gallium-FIB/lidx/1/

Adresse (optional):
Kopernikusstr. 10, 52074 Aachen

Ansprechpartner*in:
Dr. Marcus Hans

E-Mailadresse (optional):
hans@mch.rwth-aachen.de